ortec-online/HPGe輻射探測器類型和如何進行選擇？

更新時間：2023-08-31

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高純鍺（HPGe）輻射探測器的分類

ORTEC提供各種HPGe輻射探測器解決方案，涵蓋了幾百電子伏特（eV）范圍內(nèi)的X射線能量以及10 MeV及以上范圍內(nèi)的伽馬射線能量。這些探測器使用P型和N型的高純鍺（HPGe）制造而成。這兩類探測器均使用液氮或機械冷卻器進行低溫冷卻。

如何為您的應用選擇合適的HPGe輻射探測器

為您的特定應用選擇正確的探測器需要考慮許多標準。特定測量所需的探測器不能通過單個表格或圖表確定。上面的能量范圍圖表和下面的關鍵屬性表應在選擇探測器時使用。您可以單擊下表中的探測器類型鏈接，以獲取有關該特定探測器的更多詳細信息。

ORTEC還有幾種應用特定的探測器，并且具備設計和制造專用探測器的能力。選擇以下鏈接了解更多詳情。

FWHM分辨率（以keV為單位）能量
探測器系列	典型計數(shù) 幾何位置	相對效率范圍（％）	5.9 keV	122 keV	1332 keV
GEM P型同軸	點源大面積源 Marinelli杯	10-150	不適用	0.80-1.30	1.75-2.30
Profile C P型同軸	點源大面積源 Marinelli杯	20-175	0.73-1.23	0.85-1.30	1.80-2.30
Profile M P型同軸	點源大面積源	20-175	不適用	0.88-1.30	1.80-2.20
Profile S P型半平面	點源大面積源	7-65	0.35-0.50	0.65-0.70	1.80-1.90
Profile SP P型半平面	點源大面積源	7-50	0.30-0.43	0.59-0.63	1.80-1.90
Profile F P型半平面	點源大面積源	7-60	不適用	0.65-0.85	1.80-2.10
GMX N型同軸	點源大面積源 Marinelli杯中子本底	10-100	0.60-1.20	不適用	1.80-2.5
GLP P型平面	點源小面積源定時測量	不適用	0.17-0.39	0.48-0.60	不適用
GWL P型反向同軸（井）	小體積源井內(nèi)測量	90-450毫升有效體積（15％-100％相對效率）	不適用	1.20-1.40	2.10-2.30

應用	最合適的探測器
同步輻射研究；軟X射線研究	GLP
具有復雜譜的大型環(huán)境樣品	GEM、GEM-F、GEM-M、GEM-C、GEM-S（推薦低本底）
過濾介質(zhì)、盤狀或瓶狀的環(huán)境樣品	GEM-F、GEM-C、GEM-S、GEM、GMX
小型環(huán)境樣品	GWL（推薦低本底）
高等級裂變材料/安全保障	SGD、SGD-GEM
中子活化分析	GMX（推薦附加選件）
事故后監(jiān)測	GEM（推薦附加選件）
康普頓抑制的伽馬能譜測量	GMX
海上或空中巡查	Micro-trans-SPEC、trans-SPEC-DX-100T、IDM-200-V
肺部監(jiān)測	GEM-S、錒系元素-85
測量射線束或近快速中子場	GMX（推薦使用原位中子損傷退火的專用內(nèi)部加熱器）
廢物分析	Micro-trans-SPEC、trans-SPEC-DX-100T、GEM、GMX、GEM-C、GEM-S、IDM-200-V
貨運/邊境安全	Micro-Detective、Detective-EX、Detective-DX、Detective-200、IDM-200-P、IDM-200-V
原位環(huán)境譜分析	Micro-trans-SPEC、trans-SPEC-DX-100T、GEM、GMX、GEM-C、GEM-S、IDM-200-V

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