internationallight光測(cè)量探測(cè)器照度計(jì) 光學(xué)探測(cè)儀紫外光譜儀

internationallight光測(cè)量探測(cè)器照度計(jì) 光學(xué)探測(cè)儀ILT的介紹
ILT 檢測(cè)器設(shè)計(jì)用于發(fā)射皮安到毫安范圍內(nèi)的低水平電流，然后在與 ILT 照度計(jì)一起使用時(shí)轉(zhuǎn)換為校準(zhǔn)光學(xué)單位，例如勒克斯、W、W/cm2 等。檢測(cè)器組件通常包括傳感器、過濾器、光學(xué)器件和校準(zhǔn)器

產(chǎn)品型號(hào)：ILT
廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商
更新時(shí)間：2023-04-14
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5.8 mm2 有效面積硅探測(cè)器，帶內(nèi)置過濾器，位于棒式探測(cè)器外殼中。尺寸：43 x 19 x 15 毫米。未校準(zhǔn)。

ILT 檢測(cè)器設(shè)計(jì)用于發(fā)射皮安到毫安范圍內(nèi)的低水平電流，然后在與 ILT 照度計(jì)一起使用時(shí)轉(zhuǎn)換為校準(zhǔn)光學(xué)單位，例如勒克斯、W、W/cm2 等。檢測(cè)器組件通常包括傳感器、過濾器、光學(xué)器件和校準(zhǔn)器

勒克斯校準(zhǔn)探測(cè)器組件示例：“SED033/Y/W"包括“SED033"33mm2 硅光電二極管探測(cè)器、“Y"適光校正濾光片和“W"漫射器以及校準(zhǔn)。

SED 和SPM型光學(xué)檢測(cè)器外殼由黑色陽極氧化鋁制成，帶有過濾器內(nèi)螺紋、一個(gè)三腳架和兩個(gè)端部安裝。只有這些外殼允許過濾器選擇/交換和水下修改

XSD 型光學(xué)探測(cè)器的 直徑為 15 x 42 mm。帶有用于安裝的 8-32 螺紋螺紋孔的外殼。5.8 mm2 有源區(qū)硅探測(cè)器，內(nèi)置 CIE VIS 響應(yīng)濾波器，位于棒式探測(cè)器外殼中。尺寸：43 x 19 x 15 毫米。未校準(zhǔn)。5.8 mm2 有效面積硅探測(cè)器，帶內(nèi)置過濾器，位于棒式探測(cè)器外殼中。尺寸：43 x 19 x 15 毫米。未校準(zhǔn)。

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