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技術文章/ article
珀爾帖溫度控制器VPE-35[帶溫度程序功能]規(guī)格溫度設定范圍:-30℃?+110℃溫度設定分辨率:0.1℃顯示溫度分辨率:0.1℃動作顯示:加熱中→紅色LED、冷卻中→綠色LED控制方式:PI控制p設定范圍:0.1?99.9%※RS232C下僅可適用外部通信模式I設定范圍:1?1999sec※RS232C下僅可適用外部通信模式珀爾帖驅動方式:PWM驅動溫度傳感器:熱敏電阻程序功能步驟數:10個步驟記憶模式:8種模式圖案重復次數:1次或無限安全功能:傳感器斷線時→關閉電源輸入...
日本柯尼卡美能達SPAD-502plus葉綠素儀，超多科研文獻引用分光測色計色彩色差計葉綠素計SPAD-502這是了解植物健康度所必需的，將植物葉子中所含的葉綠素(葉綠素)量表示為SPAD值(表示葉綠素含量的值)的測量器。SPAD-502Plus使用介紹(PDF:822KB)產品信息規(guī)格產品信息測量植物健康度的儀器這是了解植物健康度所必需的，將植物葉子中所含的葉綠素(葉綠素)量表示為SPAD值(表示葉綠素含量的值)的測量器。葉綠素計是無需采集樣品就能當場瞬間進行測量，而且由于...
asahi-spectra光學儀器光源裝置HAL-320太陽能模擬器太陽能模擬器HAL-320什么是HAL-320是緊湊、省空間、光導照射式的AM1.5G模擬太陽能光源。是本公司太陽能模擬器的標準型。特長光導中的柔性照射內置電源，結構緊湊，移動也很簡單合理的價格使用外置控制器操作調光功能(70級)也可通過RS232C進行外部控制應用領域人工光合成研究太陽能電池研究光催化劑研究顯示器檢查化妝品研究述評等等產品規(guī)格型號HAL-320波長范圍350~1100nm(標準搭載本公司制A...
日本asahispectra朝日分光太陽能模擬器HAL-320什么是HAL-320是緊湊、省空間、光導照射式的AM1.5G模擬太陽能光源。是本公司太陽能模擬器的標準型。特長光導中的柔性照射內置電源，結構緊湊，移動也很簡單合理的價格使用外置控制器操作調光功能(70級)也可通過RS232C進行外部控制應用領域人工光合成研究太陽能電池研究光催化劑研究顯示器檢查化妝品研究述評等等構成附件主體燈盒光導安裝口控制器石英光導(1m或2m)棒形透鏡(RLQL80-05)控制器電纜(2m)專用...
xPIN二極管計量檢測器RITE通過向用戶提供稱為xPIN的計量PIN二極管檢測器來完善其檢測器產品組合。xPIN具有緊湊靈活的設計，非常適合從實驗室設備的校準和測試到X射線強度的長期精確監(jiān)控的應用，是強度監(jiān)控或光束校準非常重要的應用的理想解決方案。該檢測器可以很容易地用作手持監(jiān)視器，或者可以與固定到光具座上的傳感器頭一起使用。探測器有自己的長壽命內置電池。充電或供電操作可以通過任何USB設備的標準USB電纜來完成。當連接到PC時，USB電纜也用于傳輸數據。各種傳感器類型和過...
xsightFCCCD和sCMOSXsightRapid(scmos版本)是一款緊湊快速的二維(2D)X射線相機，由薄熒光屏、光纖和相機組成。xsightFC攝像機是一種光纖耦合攝像機，與xsightLC版本相比，其靈敏度大約高20倍。xsightFC的空間分辨率為8微米和16微米。xsightFC攝像機也有CCD版本。應用程序x射線顯微術x射線地形圖x射線光學調整和計量x射線成像XsightμRapid相機具有堅固的機身，可防止任何散射的X射線直接撞擊圖像傳感器，從而增加噪...
概觀2008年，Rigaku創(chuàng)新技術歐洲有限公司(RITE)成為Rigaku公司的一部分。RITE的主要關注點是研發(fā)項目，這些項目擴展了Rigaku的X射線光學系統和探測器，適用于EUV/XUV的硬X射線和軟X射線?；贑CD、sCMOS和PIN二極管的檢測器RITE開發(fā)并制造了CCD和sCMOSX射線成像檢測器，這兩種檢測器都具有市場上最高的空間分辨率。它們被稱為xsightLC和xsightFC檢測器。XSight液晶攝像機xsightLC檢測器包含一個可互換的耦合透鏡，...
緊湊型膜厚監(jiān)控儀是一種反射分光光度計，使用小型反射探頭，適用于從實驗室水平到生產過程中在線100%檢測的所有情況。它具有出色的可維護性，可用于過程設備和生產線管理。最多可同時測量9種類型的透明薄膜。它可用作各種多層薄膜工藝的在線或終點監(jiān)控器。緊湊型探針可以安裝在加工工具內部的小空間中。還可以通過使用EMA理論來判斷混合層的混合比或多晶硅的結晶度。緊湊型光纖探頭可以安裝在加工工具內部的小空間中膜厚測量0.1nm(3o)的重復性好可測量多達9層的多層膜厚度使用旋涂機檢測終點的視頻...
特征紅外板厚度監(jiān)視器測量半透明板的厚度，如電池隔板、低反射涂層(如黑色保護層)和硅。它可用于從實驗室水平到生產中在線100%檢測的所有應用。紅外吸收系統由一個帶有透射光學系統的緊湊型鏡面探頭組成，可在100多個波長下同時測量多種參數，如薄膜厚度、密度和成分。1測量半透明板、低反射膜、硅等的厚度。這對于光學干涉測量來說是很困難的2緊湊型探針通過采用小型30mm反射式探頭，可以安裝在設備或生產線中的狹小空間內。此外，由于探頭僅通過光纖電纜連接到主體，因此它具有優(yōu)異的耐環(huán)境性。3高...
特征晶圓繪圖單元能夠自動繪制厚度達300mm的整個晶圓表面的薄膜厚度測量。自動對準功能、自校準功能和高平整度晶圓夾盤可實現高度可靠的薄膜厚度測量。該裝置與一起使用緊湊型薄膜厚度監(jiān)控器.它可以安裝在半導體制造設備的裝載端口，以控制制造設備上的薄膜厚度，同時保持清潔度。1高達300mm晶片的自動薄膜厚度繪圖測量是可能的2自動校準功能3自動校準功能4通過采用具有高平整度的晶片卡盤來提高晶片表面的測量可靠性5支持自動化6裝載口安裝測量數據示例(等高線圖)鍵合晶片的硅厚度(nm)測量數...
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