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技術(shù)文章/ article
概述2008年，RigakuInnovativeTechnologiesEuropesro(RITE)并入RigakuCorporation。RITE的主要重點(diǎn)是研發(fā)項(xiàng)目，這些項(xiàng)目擴(kuò)展了Rigaku的X射線光學(xué)器件和EUV/XUV、硬X射線和軟X射線探測器?；贑CD、sCMOS和PIN二極管的探測器RITE開發(fā)并制造了CCD和sCMOSX射線成像探測器，這兩種探測器都具有市售的最高空間分辨率。它們稱為XSight™LC和XSight™FC檢測器。XS...
pulstec的LUCASNano波紋度測量裝置/透鏡裝置波前的測量系統(tǒng)特征◆盧卡斯-努克這是一個(gè)以低廉的價(jià)格實(shí)現(xiàn)穩(wěn)定的實(shí)時(shí)波紋度測量的系統(tǒng)。它具有較寬的高度測量范圍，可以測量白色干涉儀難以一次測量的起伏。它體積小、重量輕，可以集成到各種設(shè)備中?？蛇M(jìn)行實(shí)時(shí)[0.1秒（最大）]波紋度測量?！舯R卡斯這是鏡頭單元檢查和調(diào)整系統(tǒng)。它具有較寬的動態(tài)范圍，可以測量干涉儀難以測量的大像差。除了波前的傳感器之外，底座單元還內(nèi)置有自準(zhǔn)直儀、可用作測量光的激光光源以及便于調(diào)節(jié)的對準(zhǔn)相機(jī)?？筛鶕?jù)需...
HM-1000透明體厚度/波紋度測量儀特征這是一種應(yīng)用OCT（光學(xué)相干斷層掃描）技術(shù)的用于玻璃等透明物體的無損斷層掃描測量裝置。最多可檢測8層厚度。測量范圍為20μm至17mm，重復(fù)性為2μm。測量速度快（250次/秒），可進(jìn)行高精度測量。即使對于具有曲面或特殊形狀的物體，我們也可以提出最佳系統(tǒng)。使用示例透明樹脂板和薄膜的厚度和波紋度測量平板顯示器玻璃層、樹脂層、粘合層厚度測量測量透明管內(nèi)徑鏡片厚度測量深圳九州工業(yè)品有限公司，坐落于深圳市，是一家工業(yè)品綜合服務(wù)商。主要包括機(jī)電...
photoelectronsoulPES-2020電子束系統(tǒng)®應(yīng)用：半導(dǎo)體晶圓檢測設(shè)備【產(chǎn)品特點(diǎn)】電子束比肖特基亮10倍以上測量數(shù)據(jù)世界首的個(gè)的數(shù)字選擇性電子束™(DSeB)功能測試示例多束兼容，可形成任意形狀的電子束概念形狀即使在長期運(yùn)行期間也能保持高可用性和出色的輸出穩(wěn)定性連續(xù)測試結(jié)果[機(jī)身規(guī)格]加速電壓：可調(diào)至-50kV光束電流：200uA或以上尺寸：821mmx722mmx562mm（高x寬x深）重量：140kg激光等級：4級安全標(biāo)準(zhǔn)：SEMIS2...
tsubosaka日本壺坂近紅外照明SOL-300IR-8594光源燈兩種類型的LED可以發(fā)出兩種不同波長的光。直流照明意味著無閃爍配備三腳架安裝螺絲孔，可連接移動攝影車等。產(chǎn)品名稱光源模型SOL-300IR-8594光源近紅外LED照明方式直流照明輻照度[μW/?]850nm：250以上（0.5m距離處）940nm：250以上（0.5m距離處）功能?2個(gè)LED系統(tǒng)的輸出調(diào)整?配備三腳架安裝螺絲孔（1/4-20UNC）顯示/操作主機(jī)操作電源電壓專用交流適配器(12V4A)AC...
LMG系列高速測量的優(yōu)點(diǎn)測量間隔更短，精度更高。與傳統(tǒng)型號相比，高速穩(wěn)定控制電路可實(shí)現(xiàn)兩倍的測量次數(shù)（3600次/秒）。只需傳統(tǒng)方法一半的測量時(shí)間即可實(shí)現(xiàn)高精度。重復(fù)精度也得到顯著提高?？s短自動測量的節(jié)拍時(shí)間即使測量被測量物體的旋轉(zhuǎn)的滾子測量裝置或立銑刀自動測量裝置的旋轉(zhuǎn)速度加倍并且測量時(shí)間減半，也可以實(shí)現(xiàn)與以前相同的高精度測量。實(shí)現(xiàn)每小時(shí)檢查次數(shù)的大幅增加，對于配備自動送料裝置的檢查設(shè)備極為有效。在連續(xù)測量過程中更準(zhǔn)確地捕獲峰值（最大值和最小值）掃描速度的提高還可以減少垂直...
激光測微儀的測量原理邊緣判斷方法通用外徑尺寸測量儀器方法示意圖典型的激光外徑尺寸測量儀以接收到的激光光量的水平（1/2判斷）進(jìn)行測量。如果周圍環(huán)境較差，測量裝置的玻璃表面附著灰塵或污垢，接收到的光量可能會衰減，導(dǎo)致測量誤差或無法測量。因此，必須在清潔的環(huán)境中進(jìn)行測量或經(jīng)常清潔玻璃表面。我們的LMG系列系統(tǒng)示意圖我們的LMG系列采用邊緣確定方法，不易受到接收光量減少的影響。即使由于玻璃表面的污垢等導(dǎo)致接收光量減少，只要能夠確認(rèn)接收光水平的變化量，就可以繼續(xù)測量。它可以在受傳統(tǒng)激...
3600次/秒超高速測量與我們之前的型號相比，LMG7系列的測量次數(shù)增加了一倍（3600次/秒）。它還可以抵抗高速移動的線路上的測量以及安裝位置的振動影響。進(jìn)一步提高測量精度可以用傳統(tǒng)方法一半的測量時(shí)間進(jìn)行高精度測量。高速穩(wěn)定的控制電路也大大提高了重復(fù)性。非接觸式測量的測量穩(wěn)定性與接觸法相比，測量中的個(gè)體誤差減少了。不會損壞被測物體，與被測物體的材質(zhì)無關(guān)。配備多種測量模式和顯示功能（顯示單元D7系列）配備多種功能，如同時(shí)顯示兩種測量值、切換顯示毫米/英寸、易于設(shè)置的自動測量模...
激光測微儀LMG系列每秒3600次掃描的超快速測量使用激光無需接觸即可即時(shí)測量外徑和間隙配備同時(shí)顯示兩種測量值和多種測量模式從測量寬度2mm型到220mm型共7個(gè)范圍特征這是一種外徑測量儀，可高速掃描激光束，以非接觸方式高精度測量外徑和間隙。我們擁有各種傳感器，可以測量從10微米的電線到超過200毫米的工件。另外，由于是非接觸式，因此可以測量易碎、易變形的物品以及高/低溫物品。可以進(jìn)行高精度、高速測量，甚至可以檢測細(xì)微且快速的尺寸變化。日本TOE東京光電子激光外徑測量儀LMG...
積分照度計(jì)LX-25頻閃測試儀、照度計(jì)、閃光計(jì)測量發(fā)光強(qiáng)度等5項(xiàng)將發(fā)光存儲在電容器中進(jìn)行測量（積分法）與幾微秒內(nèi)發(fā)光的物體兼容管理和測量氙氣、LED閃光燈、閃光燈和引導(dǎo)燈的理想選擇顯示直到閃光結(jié)束為止的累積光量。小容量、大容量閃光燈可通過切換至選購的受光部進(jìn)行測量。支持外部通訊，可實(shí)現(xiàn)遠(yuǎn)程控制*對于生產(chǎn)線檢查，低價(jià)版本LXP-22是最的佳的選的擇，它可以在PC上顯示設(shè)置和測量結(jié)果。模型LX-25功能?測量值的顯示?測量條件的變更設(shè)定范圍?受光靈敏度（3級）?OK/NG判定基準(zhǔn)...
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